Halfgeleiders

C.N. Rood biedt oplossingen voor het karakteriseren van halfgeleidercomponenten en -structuren. Daarbij gaat het niet alleen om karakterisatie van gelijkspanning (DC) en gepulste-stroom-spanning, maar ook om de karakterisatie van impedantie (AC) en capaciteit versus spanning. Wij hebben instrumentatie beschikbaar voor productontwikkeling en foutanalyse met nadruk op grafische weergave. Net als snelle systeemoplossingen voor productie, zoals parameterextractie en/of betrouwbaarheidstesten.
Naast instrumentatie levert CN Rood de mechanische systemen voor contactering van structuren op waferniveau.

Pagina
Van hoog naar laag sorteren
per pagina
4200-BTI-A
4200-BTI-A
Keithley Instruments
Keithley 4200-BTI-A, High Resolution and Power IV & CV package for power devices, high κ dielectric, deep submicron CMOS device characterization
Prijs op aanvraag
4200A-SCS-PK3
4200A-SCS-PK3
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK3, High Resolution and Power IV & CV package for power devices, high κ dielectric, deep submicron CMOS device characterization
Prijs op aanvraag
4200A-SCS-PK2
4200A-SCS-PK2
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK2, High Resolution IV & CV package for high κ dielectric, deep submicron CMOS characterization
Prijs op aanvraag
4200A-SCS-PK1
4200A-SCS-PK1
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK1, high resolution I-V package for two- and three-terminal devices, MOSFET, CMOS characterization
Prijs op aanvraag
Pagina
Van hoog naar laag sorteren
per pagina