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Semi-conductor

C.N. Rood propose des solutions pour caractériser des composants semi-conducteurs et des structures. Dans ce cas, il ne s'agit pas seulement de la caractérisation de la tension continue (CC) et du courant à tension pulsée, mais également de la caractérisation de l'impédance (CA) et de la capacité par rapport à la tension. Nous disposons d'instruments pour le développement produit et l'analyse d'erreurs mettant l'accent sur l'infographie. Tout comme les solutions système rapides pour la production, comme l'extraction de paramètres et/ou les tests de fiabilité.

En plus de l'instrumentation, CN Rood fournit également les systèmes mécaniques pour la mise en contact des structures au niveau photorépéteur.

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4200-BTI-A
4200-BTI-A
Keithley Instruments
Keithley 4200-BTI-A, High Resolution and Power IV & CV package for power devices, high κ dielectric, deep submicron CMOS device characterization
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4200A-SCS-PK3
4200A-SCS-PK3
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK3, High Resolution and Power IV & CV package for power devices, high κ dielectric, deep submicron CMOS device characterization
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4200A-SCS-PK2
4200A-SCS-PK2
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK2, High Resolution IV & CV package for high κ dielectric, deep submicron CMOS characterization
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4200A-SCS-PK1
4200A-SCS-PK1
Keithley Instruments
Keithley 4200A-SCS-PK1, high resolution I-V package for two- and three-terminal devices, MOSFET, CMOS characterization
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